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三坐標(biāo)探測(cè)系統(tǒng)介紹：

提供Hexagon-TESA、Leitz 和Renishaw完善的測(cè)量機(jī)用測(cè)頭、測(cè)座、測(cè)頭更換架及附件，融合探測(cè)系統(tǒng)領(lǐng)域前沿科技，可實(shí)現(xiàn)高精度觸發(fā)式、掃描式、非接觸式測(cè)量，充分展示了坐標(biāo)測(cè)量探測(cè)技術(shù)的新發(fā)展。高度創(chuàng)新的光機(jī)電設(shè)計(jì),使得測(cè)頭系統(tǒng)能夠探測(cè)到X,Y和Z方向納米級(jí)的位移量，并保持很低的重復(fù)性誤差和3D形狀誤差。經(jīng)過專業(yè)嚴(yán)謹(jǐn)設(shè)計(jì)和制造的全系列標(biāo)準(zhǔn)配置，能夠完成各種快速而精確的測(cè)量。

主要特點(diǎn)：

        ?    技術(shù)*先
        ?    操作精確可靠
        ?    應(yīng)用靈活性強(qiáng)，并具備杰出的用戶效能
        ?    全面兼容各種測(cè)量機(jī)產(chǎn)品
        ?    快速有效的互換特性
        ?    根據(jù)生產(chǎn)需要，利用擴(kuò)展模塊優(yōu)化測(cè)量系統(tǒng)
        ?    穩(wěn)定的結(jié)構(gòu)，高承載能力
        ?    適應(yīng)工業(yè)環(huán)境的優(yōu)異耐久性

HH-T手動(dòng)探測(cè)系統(tǒng)	HH-Mi手動(dòng)分度探測(cè)系統(tǒng).	HH-A-H2.5自動(dòng)探測(cè)系統(tǒng)	HH-A / HH-AS8自動(dòng)探測(cè)系統(tǒng)
關(guān)節(jié)式測(cè)座，可手動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)到任何角度，內(nèi)置觸發(fā)測(cè)頭，觸測(cè)力可調(diào)，是小型測(cè)量機(jī)的理想選擇。	可重復(fù)分度并整合高精度觸發(fā)測(cè)頭。可以在兩個(gè)方向上現(xiàn)15° 分度，而不需要而重新校準(zhǔn)。	具有超長(zhǎng)攜帶能力，大可攜帶750mm加長(zhǎng)桿，支持觸發(fā)、掃描及激光測(cè)頭。2.5度的精度分度。	高性能、高速、高可靠性自動(dòng)測(cè)座,提供了5°和7.5°兩種分度方式。AS8可以安裝在Z軸內(nèi)部。

HP-S-X1掃描探測(cè)系統(tǒng)	HP-S-X3掃描探測(cè)系統(tǒng)	HP-S-X5掃描探測(cè)系統(tǒng)
完善的系統(tǒng)配備，為通用測(cè) 量任務(wù)提供多種選擇。包括 手動(dòng)、自動(dòng)測(cè)座、模塊化測(cè) 頭、更換架、探針、加長(zhǎng)桿等。	緊湊、高性價(jià)比、高精確 度的三維固定式掃描測(cè)頭， 可配置長(zhǎng)達(dá)360 mm的加 長(zhǎng)桿和探針組。	高承載、全三維、 固定式掃 描測(cè)頭，即使在攜帶超長(zhǎng)加 長(zhǎng)桿的情況下也可保證達(dá)到 很快的速度和很高的精度。
LSP-S2掃描探測(cè)系統(tǒng)	HP-C-VE光學(xué)測(cè)頭	HP-L-10.6激光掃描測(cè)頭
LSP-S2始終提供高等級(jí) 的精度，探針加長(zhǎng)可達(dá)到 800mm，是高精度完成深 ，孔類特征的測(cè)量。	HP-C-VE能夠安裝在測(cè)量 機(jī)上，實(shí)現(xiàn)了大尺寸部件上 面微小特征的放大測(cè)量。	功能完善的交鑰匙方案，通 過快速點(diǎn)云采集，實(shí)現(xiàn)了與 CAD比較測(cè)量、 面檢測(cè)以及逆向工程等任務(wù)。
Precitec LR高精光學(xué)測(cè)頭	HP-L -20.8 激光掃描測(cè)頭
可與HP-S-S2配合使用，能 夠適應(yīng)任何類型的表面測(cè)量 任務(wù)，光圈在90°+40°范圍 方向可調(diào)。	專用于關(guān)節(jié)臂測(cè)量機(jī)的掃描 測(cè)頭。自動(dòng)實(shí)現(xiàn)光強(qiáng)的調(diào)整， 為復(fù)雜形狀和各種材料的掃 描提供了-流的方案。