一體化便攜式硬度檢測(cè)解決方案
Equotip 550 是便攜式硬度檢測(cè)中功能齊全的一體化解決方案。 里氏硬度原理基于動(dòng)態(tài)（回彈）法，適用于重型、大型或已安裝部件的現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)。結(jié)合 Equotip Portable Rockwell 探頭，Equotip 550 可使用傳統(tǒng)的洛氏硬度靜態(tài)檢測(cè)法。 這將能夠在現(xiàn)場(chǎng)自動(dòng)將 Leeb 關(guān)聯(lián)至 Portable Rockwell 的實(shí)際壓痕硬度值。新一代 Equotip 觸摸屏裝置提供由行業(yè)專家精心設(shè)計(jì)的界面，提高了檢測(cè)效率和改善用戶體驗(yàn)。 改進(jìn)的軟件可提供互動(dòng)向?qū)?、自?dòng)驗(yàn)證進(jìn)程、個(gè)性化選項(xiàng)和自定義報(bào)告功能。 此外，該儀器可兼容后續(xù)開(kāi)發(fā)產(chǎn)品。全彩顯示屏使您能夠執(zhí)行高質(zhì)量的測(cè)量和對(duì)已測(cè)得數(shù)據(jù)進(jìn)行分析。特殊設(shè)計(jì)的外殼適于惡劣的現(xiàn)場(chǎng)使用環(huán)境。迄今為止，Proceq 的 Equotip 已經(jīng)成為全球廣泛認(rèn)可的測(cè)量技術(shù)和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。 Equotip 裝置完全滿足眾多行業(yè)對(duì)無(wú)損硬度檢測(cè)的要求。
特別功能：
? 雙核處理器，支持各種通信接口和外圍接口： 探頭連接器、USB 主機(jī)、USB 裝置和以太網(wǎng)
? 模塊化概念： 利用各種型號(hào)的探頭和配件靈活配置各種行業(yè)應(yīng)用
? 組合法： 在現(xiàn)場(chǎng)自動(dòng)將 Leeb 關(guān)聯(lián)至 Portable Rockwell 的實(shí)際壓痕硬度值
? 引導(dǎo)向?qū)В?預(yù)定義工作流以增強(qiáng)進(jìn)程可靠性和提高測(cè)量精確度
? 自動(dòng)驗(yàn)證： 根據(jù) ISO 16859 和 ASTM A956 逐步驗(yàn)證
? 互動(dòng)指南： 通過(guò)屏幕通知為您的應(yīng)用獲取相關(guān)的設(shè)置
? 轉(zhuǎn)換曲線： 直接在儀器上創(chuàng)建、編輯和驗(yàn)證轉(zhuǎn)換曲線
? 自定義報(bào)告： 模塊化報(bào)告處理器允許自定義測(cè)量報(bào)告
? 自動(dòng)選項(xiàng)： 將 NDT 自動(dòng)操作集成至質(zhì)量管理系統(tǒng)和自動(dòng)檢測(cè)環(huán)境
? 外殼經(jīng)過(guò)特殊設(shè)計(jì)，可用于嚴(yán)苛的現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境 (IP 54)，包括背帶、集成支架和遮陽(yáng)蓋
? 高分辨率彩色顯示屏
? 電池使用時(shí)長(zhǎng) >8h
? 8 GB 閃存
Leeb測(cè)量原理–由Proceq發(fā)明
Leeb 硬度原理基于動(dòng)態(tài)（回彈）法。帶堅(jiān)硬金屬壓頭的沖擊體由彈簧向檢測(cè)件表面推進(jìn)。當(dāng)沖擊體沖擊測(cè)試表面時(shí)，表面出現(xiàn)變形，從而導(dǎo)致動(dòng)能損耗。當(dāng)沖擊體在檢測(cè)的沖擊和反彈階段分別距離表面特定距離時(shí)，能量損失通過(guò)對(duì)比速度 vi 和 vr進(jìn)行檢測(cè)。通過(guò)沖擊體中的永久磁鐵在精確定位于沖擊裝置的繞組中產(chǎn)生感應(yīng)電壓來(lái)測(cè)量速度。檢測(cè)到的電壓與沖擊體的速度成正比。然后信號(hào)處理會(huì)給出硬度讀數(shù)。
|
|
|
應(yīng)用范圍：
根據(jù)需要自動(dòng)轉(zhuǎn)換至所有通用的硬度單位（HV、HB、HRC、HRB、HRA、HS、Rm）自動(dòng)更正沖擊方向確保高準(zhǔn)確度 ±4 HL（硬度為 800 HL 時(shí)，準(zhǔn)確度為 0.5%）測(cè)量范圍廣泛，可利用各種沖擊裝置和支撐環(huán)來(lái)滿足大多數(shù)的硬度檢測(cè)要求。每個(gè)沖擊裝置均可使用硬度范圍廣泛和精確的硬度測(cè)試塊，，用于定期驗(yàn)證。
|
|
|
|
|
測(cè)量范圍廣
|
沖擊裝置和配件
|
硬度單位眾多
|
測(cè)試塊組合
|
應(yīng)用行業(yè):
金屬制造及加工、鍋爐及壓力容器、汽車制造業(yè)、機(jī)械及發(fā)電廠、石化及煉油廠、宇航、航空及造船業(yè)、金屬建筑業(yè)、測(cè)試服務(wù)及實(shí)驗(yàn)室等。里氏回彈硬度檢測(cè)主要用于金屬測(cè)量，還可用于復(fù)合材料、橡膠和巖石檢測(cè)，合適用于材料挑選、驗(yàn)收和生產(chǎn)環(huán)節(jié)檢測(cè)，合適用于重型和大型部件安裝前后的現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)，方便用于難進(jìn)入或空間有限的金屬硬度檢測(cè)場(chǎng)地，通過(guò)直接兼容后續(xù)開(kāi)發(fā)產(chǎn)品，實(shí)現(xiàn)未來(lái)保障投資。
Equotip® 550 觸摸屏裝置獨(dú)特功能
訂貨信息
|
|
Equotip
|
Proceq Flaw
Detector 100
|
|
35210 001
|
Equotip Piccolo 2硬度檢測(cè)儀, D型
|
792 10 000
|
Proceq Flaw Detector 100 (Lemo)
|
|
35220 001
|
Equotip Bambino 2硬度檢測(cè)儀, D型
|
792 20 000
|
Proceq Flaw Detector 100 (BNC)
|
|
356 20 002
|
Equotip 540 Leeb D
|
792 50 001
|
TOFD軟件升級(jí)
|
|
356 20 005
|
Equotip 540 UCI HV1- HV10
|
792 50 002
|
PA 16:16軟件升級(jí)
|
|
356 10 001
|
Equotip 550
|
792 50 003
|
TOFD和PA 16:64軟件升級(jí)
|
|
35610 002
|
Equotip 550 Leeb D
|
793 50 007
|
軟件升級(jí)CSV輸出
|
|
356 10 003
|
Equotip 550 Leeb G
|
792 50 008
|
軟件升級(jí)Proceq FD Link軟件
|
|
356 10 004
|
Equotip 550 Portable Rockwell
|
服務(wù)和保修信息
Proceq致力于通過(guò)我們的全球服務(wù)和分支機(jī)構(gòu)為每一臺(tái)測(cè)試儀器提供完整的服務(wù)支持。此外，所有儀器都可享受標(biāo)準(zhǔn)Proceq
2年保修,電子組件也可選擇延長(zhǎng)保修期。
標(biāo)準(zhǔn)保修
●儀器的電子組件:24個(gè)月
●儀器的機(jī)械組件:6個(gè)月
延長(zhǎng)保修.
購(gòu)買(mǎi)新儀器時(shí),可獲得最多3年的延長(zhǎng)保修(針對(duì)儀器的電子部分)。必須在購(gòu)買(mǎi)時(shí)或購(gòu)買(mǎi)后90天內(nèi)申請(qǐng)額外保修。
|
|
356 10 007
|
Equotip 550 UCI HV1-HV10
|
|
35610 021
|
Equotip 550 Portable Rockwell & Leeb D套件
|
|
356 10 023
|
Equotip 550 Portable Rockwell & UCI套件
|
|
356 10 024
|
Equotip 550 Leeb D & UCI套件
|
|
356 00 600
|
Equotip Portable Rockwell Probe 50N*
|
|
35810 011
|
Equotip Live Leeb D
|
|
358 10 012
|
Equotip Live Leeb D -初始租賃費(fèi)
|
|
358 99 003
|
Equotip Live Leeb D -報(bào)告功能
|
|
35810 021
|
Equotip Live UCI HV1- HV10
|
|
Zonotip
|
|
790 10 000
|
Zonotip
|
|
790 20 000
|
Zonotip+
|
瑞士博勢(shì) Equotip Bambino 2小型筆式硬度計(jì)
瑞士博勢(shì) Proceq Equotip Piccolo 2里氏回彈硬度計(jì)
尚材XHBT-3000Z III全自動(dòng)三壓布氏硬度計(jì)
尚材XHB-3000Z三壓頭布氏硬度計(jì)
尚材XHB-3000數(shù)顯布氏硬度計(jì)
尚材MHB-3000數(shù)顯布氏硬度計(jì)
